例如，图11—45(a)所示φ孔的轴线的位置度公差以相互垂直的A、B两轮廓为基准。若以A为第一基准、B为第二基准，则基准A是其单一最小包容区域的体外平面，基准B是其定向(垂直于基准A)最小包容区域的体外平面，如图11—45 (b)所示；若以B为第一基准、A为第二基准，则基准B是其单一最小包容区域的体外平面，基准A是其定向(垂直于基准B)最小包容区域的体外平面，如图11—45 (c)所示。显然，基准体系的次序不同，φ孔的轴线的理想位置不同，其位置度误差值也是不同的。

　　按上述原则由实际基准要素确定理想基准要素(基准)以后，还需要在实际测量中用适当的方法予以体观。基准体现的方法最常用的有模拟法、直接法、分析法和目标法等几种。
　　模拟法是以具有足够精度的表面与实际基准要素相接触来体现基准。例如以平板表面体现单基准平面(图11-46(a))；以V型块体现外圆柱表面的轴线基准(图11-46(b))；图11-47是模拟法体现多基准。模拟法体现基准的精度取决于模拟表面的精度与实际基准要素的状况。